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手把手教學(xué):如何使用Alpha w260推拉力測試機進行塑封器件可靠性檢測?

 更新時間:2025-07-21 點擊量:390

在現(xiàn)代電子工業(yè)中,塑封電子元器件因其成本低、重量輕、可靠性高等優(yōu)點被廣泛應(yīng)用于各類電子產(chǎn)品中。然而,隨著電子產(chǎn)品向小型化、高密度化方向發(fā)展,塑封元器件的失效問題日益突出,成為影響電子產(chǎn)品可靠性的關(guān)鍵因素之一。

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本文科準測控小編將系統(tǒng)介紹塑封電子元器件失效分析的原理、相關(guān)標準、測試儀器(重點介紹Alpha w260推拉力測試機)以及完整的分析流程,為電子制造行業(yè)的工程師和技術(shù)人員提供一套科學(xué)、規(guī)范的失效分析方法,幫助提高產(chǎn)品質(zhì)量和可靠性。

 

一、失效分析原理

塑封電子元器件失效分析的核心在于評估其封裝結(jié)構(gòu)的機械完整性,主要包括以下幾個方面:

引線鍵合強度:評估鍵合線(金線、銅線或鋁線)與芯片焊盤和引線框架之間的連接強度

焊球剪切強度:針對BGACSP等封裝形式,評估焊球與基板之間的連接可靠性

塑封材料粘附性:評估塑封料與芯片、引線框架等材料之間的界面結(jié)合強度

熱機械應(yīng)力分析:由于不同材料熱膨脹系數(shù)(CTE)不匹配導(dǎo)致的應(yīng)力失效

失效機理主要包括:

鍵合界面斷裂(lift-off

鍵合線頸部斷裂(neck break

焊球界面斷裂

塑封材料分層(delamination

熱疲勞導(dǎo)致的裂紋擴展

 

二、相關(guān)標準

塑封電子元器件失效分析需遵循以下國際和行業(yè)標準:

MIL-STD-883:微電子器件測試方法標準

Method 2011.7:鍵合強度測試(破壞性引線拉力測試)

Method 2031.1:芯片剪切強度測試

JESD22-B104JEDEC標準的鍵合拉力測試方法

IPC/JEDEC-9704:印制板組件應(yīng)變測試指南

ASTM F1269:微電子引線鍵合拉力測試標準

GB/T 4937:半導(dǎo)體器件機械和氣候試驗方法(中國國家標準)

 

三、測試儀器

1、Alpha w260推拉力測試機

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1、設(shè)備特點

a、高精度:全量程采用自主研發(fā)的高精度數(shù)據(jù)采集系統(tǒng),確保測試數(shù)據(jù)的準確性。

b、多功能性:支持多種測試模式,如晶片推力測試、金球推力測試、金線拉力測試以及剪切力測試等。

c、操作便捷:配備專用軟件,操作簡單,支持多種數(shù)據(jù)輸出格式,能夠wan美匹配工廠的SPC網(wǎng)絡(luò)系統(tǒng)。

2、核心功能

引線拉力測試:通過鉤針施加垂直拉力評估鍵合強度

焊球剪切測試:使用專用剪切工具水平推動焊球評估連接強度

芯片剪切測試:評估芯片與基板或框架的粘接強度

塑封材料剝離測試:評估塑封料界面結(jié)合強度

3、優(yōu)勢特點

高精度力值測量

多種測試模式可選

可編程自動化測試

數(shù)據(jù)采集分析系統(tǒng)完善

4、應(yīng)用范圍

適用于QFPBGA、CSP、WLCSP、Flip Chip等多種封裝形式

可測試金線、銅線、鋁線等不同鍵合材料

滿足研發(fā)、生產(chǎn)質(zhì)量控制、失效分析等不同場景需求

 

四、失效分析流程

完整的塑封電子元器件失效分析流程包括以下步驟:

1. 樣品接收與登記

記錄樣品型號、批次、失效現(xiàn)象等基本信息

對樣品進行編號和標識

2. 非破壞性檢測

外觀檢查(顯微鏡、電子顯微鏡)

X-ray檢測(內(nèi)部結(jié)構(gòu)觀察)

超聲波掃描(C-SAM,檢測分層缺陷)

3. 電性能測試

驗證失效模式(開路、短路、參數(shù)漂移等)

定位失效區(qū)域

4. 機械完整性測試(使用Alpha w260推拉力測試機)

引線拉力測試:

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選擇合適的鉤針(通常為25μm50μm

將鉤針置于鍵合線中部下方

以標準速度(通常0.1-1mm/s)施加垂直拉力

 

記錄斷裂模式和最大拉力值

焊球剪切測試:

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選擇合適寬度的剪切工具

將工具定位在焊球高度1/4

以標準速度(通常50-500μm/s)施加水平推力

記錄剪切力和失效模式

芯片剪切測試:

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將剪切工具定位在芯片邊緣

施加平行推力直至芯片脫落

記錄剪切強度

5. 破壞性物理分析

化學(xué)開封(使用發(fā)煙硝酸或等離子蝕刻)

截面制備(觀察界面微觀結(jié)構(gòu))

SEM/EDS分析(失效面形貌和成分)

6. 數(shù)據(jù)分析與報告

統(tǒng)計測試數(shù)據(jù),與標準值比較

分析失效機理(界面失效、材料缺陷、工藝問題等)

提出改進建議

編制完整的失效分析報告

 

以上就是小編介紹的有關(guān)于塑封電子元器件失效分析相關(guān)內(nèi)容了,希望可以給大家?guī)韼椭?/span>如果您還想了解更多關(guān)于推拉力測試機怎么使用視頻和圖解,使用步驟及注意事項、作業(yè)指導(dǎo)書,原理、怎么校準和使用方法視頻,推拉力測試儀操作規(guī)范、使用方法和測試視頻 ,焊接強度測試儀使用方法和鍵合拉力測試儀等問題,歡迎您關(guān)注我們,也可以給我們私信和留言,【科準測控】小編將持續(xù)為大家分享推拉力測試機在鋰電池電阻、晶圓、硅晶片、IC半導(dǎo)體、BGA元件焊點、ALMP封裝、微電子封裝、LED封裝、TO封裝等領(lǐng)域應(yīng)用中可能遇到的問題及解決方案。

 


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